[发明专利]芯片老化的静态时序分析方法、装置和电子设备有效
| 申请号： | 202011054446.4 | 申请日： | 2020-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN112149370B | 公开（公告）日： | 2022-11-15 |
| 发明（设计）人： | 陈权 | 申请（专利权）人： | 海光信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/3315 | 分类号： | G06F30/3315;G06F119/04;G06F119/12 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 蒋姗 |
| 地址： | 300450 天津市滨海新区华苑产*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本申请实施例提供了一种芯片老化的静态时序分析方法、装置和电子设备，其中，该方法包括：基于老化模型和目标芯片设计的标准单元库，计算得到所述标准单元库对应的老化标准单元库；根据所述老化模型和所述目标芯片设计，获取所述目标芯片设计老化的寄生参数；根据所述寄生参数和所述老化标准单元库，计算得到所述目标芯片设计的预测老化对应的第一时序信息；对所述第一时序信息进行分析，得到所述目标芯片设计的预测老化性能。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 老化 静态 时序 分析 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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