[发明专利]一种用于光学镜片打磨平整度检测的检测设备有效

专利信息
申请号: 202011058372.1 申请日: 2020-09-30
公开(公告)号: CN112033342B 公开(公告)日: 2022-04-15
发明(设计)人: 吴祖伟 申请(专利权)人: 湖南晶盛光电有限公司
主分类号: G01B21/30 分类号: G01B21/30
代理公司: 东莞市创益专利事务所 44249 代理人: 李卫平
地址: 423000 湖南省郴州市北*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明涉及光学镜片技术领域,具体为一种用于光学镜片打磨平整度检测的检测设备,包括壳体,所述壳体的内表面转动连接有限位连杆,所述限位连杆远离壳体的一端转动连接有第一滑块,所述第一滑块在固定框的内部滑动,所述固定框的下表面固定连接有轴承座,所述轴承座的底端转动连接有蜗杆,所述蜗杆的底端固定连接有触杆。当触杆滑动的时候,通过调节块对弹簧支撑杆产生作用力,使滑框在限位框的内部再次滑动,此时气囊受到的力发生改变,将其内部的标记液喷出,通过触杆的底端喷出,同时对镜片不平整的位置进行标记,方便在检测完成之后工作人员找到镜片上不平整的位置,使工作人员可以更加直观的观察到镜片上的缺陷位置。
搜索关键词: 一种 用于 光学镜片 打磨 平整 检测 设备
【主权项】:
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