[发明专利]测量纳米磁结构相变过程的激活能和特征弛豫时间的方法和应用在审
| 申请号： | 202011062384.1 | 申请日： | 2020-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN114325513A | 公开（公告）日： | 2022-04-12 |
| 发明（设计）人： | 李子安;柴可;李俊;田焕芳;杨槐馨;李建奇 | 申请（专利权）人： | 中国科学院物理研究所 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12;G01N23/02;G01N23/20033;G01N23/20008 |
| 代理公司： | 北京市英智伟诚知识产权代理事务所(普通合伙) 11521 | 代理人： | 刘丹妮;姚望舒 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测量纳米磁结构相变过程的激活能和特征弛豫时间的方法和应用。本发明利用透射电子显微镜洛伦兹模式来观测薄样品的磁相变动力学过程，通过制备纳米级厚度和几何尺寸的薄样品，利用激光辐照热退磁来消去磁相变过程的热滞留效应，准确获得纳米尺度磁结构相变的特征弛豫时间和激活能等动力学参数，为表征磁材料的磁动力学过程和本征磁特性提供新颖且切实可行的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 纳米 结构 相变 过程 激活 特征 弛豫时间 方法 应用 | ||
【主权项】：
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