[发明专利]一种抗dv/dt的SGT器件在审

专利信息
申请号: 202011065162.5 申请日: 2020-09-30
公开(公告)号: CN111987074A 公开(公告)日: 2020-11-24
发明(设计)人: 郭乔;林泳浩;李伟聪 申请(专利权)人: 深圳市威兆半导体有限公司
主分类号: H01L23/552 分类号: H01L23/552;H01L29/78;H01L29/423
代理公司: 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 代理人: 彭西洋;袁曼曼
地址: 518000 广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开一种抗dv/dt的SGT器件,包括:第一导电类型的衬底、位于第一导电类型的衬底的上表面的第一导电类型的外延层、位于第一导电类型的外延层内的沟槽、第一介质层、位于沟槽底部的第一导电类型的轻掺杂体区、位于第一介质层外围的第一导电类型的重掺杂体区、位于第一导电类型的外延层侧面上方的源极金属、位于沟槽上表面的第二介质层,以及位于沟槽内的多晶硅栅极和屏蔽栅极。本发明可以增大漏源电容Cds,减少开关震荡,从而减少器件的电压震荡dv/dt失效可能性。
搜索关键词: 一种 dv dt sgt 器件
【主权项】:
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