[发明专利]一种eMMC的测试方法及装置有效

专利信息
申请号: 202011066427.3 申请日: 2020-09-30
公开(公告)号: CN112133357B 公开(公告)日: 2023-06-09
发明(设计)人: 张小东;杜兆航;陈宗廷;李斌 申请(专利权)人: 深圳市宏旺微电子有限公司
主分类号: G11C29/12 分类号: G11C29/12
代理公司: 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 代理人: 叶思
地址: 518000 广东省深圳市南山区*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请适用于存储体件领域,提供了一种eMMC的测试方法及装置,所述测试方法包括:基于随机算法确定eMMC的目标区域内的测试区域;所述目标区域为所述eMMC的任一分区;将底层样式数据写入所述目标区域内的各个扇区,再将背景样式数据写入所述测试区域内的各个扇区;对所述测试区域执行断电验证操作,得到所述测试区域的验证状态;基于所述测试区域的验证状态确定所述eMMC的测试结果。本申请通过随机选取测试区域进行测试,增加选取到异常区域作为测试区域的概率,可以提高测试效果,解决现有技术中通过断电验证测试eMMC的断电数据保护性能的效果不佳导致可能存在经过测试的eMMC在实际使用时断电造成数据错误的问题。
搜索关键词: 一种 emmc 测试 方法 装置
【主权项】:
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