[发明专利]一种存储芯片的性能检测方法和系统在审
| 申请号： | 202011077380.0 | 申请日： | 2020-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN112164417A | 公开（公告）日： | 2021-01-01 |
| 发明（设计）人： | 吴佳;李礼;苗诗君;邢培栋;张旗;余云 | 申请（专利权）人： | 上海威固信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/50 | 分类号： | G11C29/50;G11C29/56 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 201702 上海市青*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种存储芯片的性能检测方法和系统，其中，方法包括：步骤S1：获取存储芯片的标识信息；步骤S2：基于标识信息确定检测方案；步骤S3：基于检测方案对存储芯片进行性能检测，输出性能检测报告；其中，标识信息包括：材质、型号、容量、存储速度、工作温度、响应时间其中一种或多种结合。本发明的存储芯片的性能检测方法，根据存储芯片的标识信息采用针对的检测方案，实现全方位的性能检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 存储 芯片 性能 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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