[发明专利]测试元件组在审
| 申请号： | 202011079419.2 | 申请日： | 2020-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN112201186A | 公开（公告）日： | 2021-01-08 |
| 发明（设计）人： | 吴瑞习 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00;G09G3/36;G01R31/26;G01R1/073;G01R1/18;G01R1/04;H05F3/00 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 何志军 |
| 地址： | 518132 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种测试元件组。测试元件组用于对一阵列基板进行电性测试，测试元件组包括：一测试治具，测试治具包括多组探针组，每一组探针组用于与一阵列基板上多个间隔设置的测试端子电性接触；静电消除装置，每一静电消除装置设置于相邻两测试端子之间，用以消除探针组上的静电。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 元件 | ||
【主权项】：
暂无信息
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