[发明专利]一种非晶带材的检测装置及方法在审
| 申请号： | 202011097654.2 | 申请日： | 2020-10-14 |
| 公开（公告）号： | CN114371433A | 公开（公告）日： | 2022-04-19 |
| 发明（设计）人： | 夏满龙;董强 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立制作所 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12 |
| 代理公司： | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人： | 肖华 |
| 地址： | 日本国东京都千*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种非晶带材的检测装置及方法，所述检测装置具备：磁轭，其具有与所述非晶带材接触的接触部；磁化部，其缠绕在所述磁轭上，对所述非晶带材施加磁场；以及检测部，其被设置于靠近所述非晶带材的表面的位置，并检测所述磁场中的所述非晶带材的磁场强度。根据本发明，由于在磁轭上卷绕磁化部，并通过磁轭上的接触部与非晶带材接触而对非晶带材施加磁场，因此，不需要制备检测用的非晶带材，能够节省检测用的时间以及成本，还能够在实际生产中实现全面检测非晶带材的质量，能够用于非晶带材磁性能的在线快速检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 非晶带材 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
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