[发明专利]一种芯片吸收谱的测量方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202011108819.1 | 申请日： | 2020-10-16 |
| 公开（公告）号： | CN112229518A | 公开（公告）日： | 2021-01-15 |
| 发明（设计）人： | 曾笔鉴;熊永华;万枫;余洁;陈玲玲;李开轩 | 申请（专利权）人： | 武汉电信器件有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/42 | 分类号： | G01J3/42 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 高天华;张颖玲 |
| 地址： | 430074 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本申请公开一种芯片吸收谱的测量方法、装置、设备及存储介质，芯片包括发射光器件和吸收光器件；其中，发射光器件用于向吸收光器件发射光信号；该方法包括：控制发射光器件向吸收光器件发射光信号；控制吸收光器件吸收发射光信号，并采集吸收光器件的光吸收谱线；基于吸收光器件的光吸收谱线，确定芯片的光吸收谱线。如此，通过芯片的发射光器件可以直接向吸收光器件发射光信号，去采集吸收光器件的光吸收谱线。由于芯片的光吸收能力主要取决于吸收光器件的光吸收能力，因此，根据吸收光器件的光吸收谱线，可确定芯片的光吸收谱线。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 吸收 测量方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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