[发明专利]存储器测试方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202011110688.0 | 申请日： | 2020-10-16 |
| 公开（公告）号： | CN114385426A | 公开（公告）日： | 2022-04-22 |
| 发明（设计）人： | 许小峰 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 孙宝海;袁礼君 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本公开提供一种存储器测试方法、装置、设备及存储介质，涉及半导体技术领域。该方法包括：获取待测试存储器的中央处理器可访问空间；获取所述待测试存储器的图形处理器可访问空间；驱动所述中央处理器基于所述中央处理器可访问空间运行测试程序，以通过待测试存储器总线访问所述待测试存储器，其中，所述中央处理器运行所述测试程序时控制所述图形处理器基于所述图形处理器可访问空间通过所述待测试存储器总线访问所述待测试存储器。该方法实现了对存储器进行访问负载度较高的压力测试，增强存储器测试的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 测试 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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