[发明专利]多芯片调试方法及多芯片调试装置在审
| 申请号： | 202011110833.5 | 申请日： | 2020-10-16 |
| 公开（公告）号： | CN112231161A | 公开（公告）日： | 2021-01-15 |
| 发明（设计）人： | 吴候;吴滔 | 申请（专利权）人： | 上海国微思尔芯技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F13/362;G06F13/40;G06F13/42 |
| 代理公司： | 北京清大紫荆知识产权代理有限公司 11718 | 代理人： | 黄贞君;冯振华 |
| 地址： | 201306 上海市浦东新区中国（上海）自由*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种多芯片调试方法及多芯片调试装置，属于通信技术领域，具体包括控制器，用于通过芯片连接接口与外部上位机进行通信，并基于从芯片连接接口接收的信号生成包含待调试芯片地址以及调试指令的调试信号；级联控制模块，用于接收控制器输出的调试信号，并采用buffer驱动器对调试信号进行调整，将调整后的调试信号携带的芯片连接接口信号转换成能够对待调试芯片的从接口进行访问的总线从接口信号；以及总线，与所有待调试芯片连接，用于获取级联控制模块输出的被转换为总线从接口信号的调试信号，并基于调试信号将调试指令传输给待调试芯片地址所指示的待调试芯片。通过本公开的处理方案，接线简单、易于维护且适用于多芯片调试。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 调试 方法 装置 | ||
【主权项】：
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