[发明专利]一种芯片测试装置在审
| 申请号： | 202011126508.8 | 申请日： | 2020-10-20 |
| 公开（公告）号： | CN112285534A | 公开（公告）日： | 2021-01-29 |
| 发明（设计）人： | 张寅;凌俭波;叶建明;季海英;祁红飞;吴勇佳 | 申请（专利权）人： | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 曹廷廷 |
| 地址： | 201203 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种芯片测试装置，用于对待测试芯片进行电气性能测试，包括：测试印制电路板，包括相对设置的正面和背面，所述正面固定有芯片测试插座，所述芯片测试插座用于插设所述待测试芯片；支撑结构，所述支撑结构固定并连接在所述测试印制电路板的背面，用于从所述背面承托所述芯片测试插座。本发明通过支撑结构解决所述测试印制电路板的超标准翘曲的问题，降低其对测试结果的影响，避免机时损失、生产延期。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
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