[发明专利]NAND硬判决参考电平偏移值的配置方法、装置及SSD设备有效

专利信息
申请号: 202011126537.4 申请日: 2020-10-20
公开(公告)号: CN112230856B 公开(公告)日: 2022-09-23
发明(设计)人: 刘晓健;王嵩 申请(专利权)人: 北京得瑞领新科技有限公司
主分类号: G06F3/06 分类号: G06F3/06
代理公司: 北京慧智兴达知识产权代理有限公司 11615 代理人: 李丽颖
地址: 100191 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例提供了一种NAND硬判决参考电平偏移值的配置方法、装置及SSD设备,所述方法包括:根据预设的初始参考电平偏移值配置硬判决参考电平,并基于所述硬判决参考电平对存储空间的存储数据进行读取,所述存储数据中包括有目标编码数据序列和预设的训练序列;对所述目标编码数据序列进行译码;若译码失败,则对读取的所述训练序列的可靠性状态参数进行统计;根据统计出的可靠性状态参数对所述初始参考电平偏移值进行调整配置。本发明实施例提出的NAND硬判决参考电平偏移值的配置方法、装置及SSD设备,能够根据存储介质的实时状态对参考电平偏移值进行相应调整,以提高数据读取可靠度。
搜索关键词: nand 判决 参考 电平 偏移 配置 方法 装置 ssd 设备
【主权项】:
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