[发明专利]一种系统缺陷检测方法、设备、电子设备和存储介质有效
| 申请号： | 202011137012.0 | 申请日： | 2020-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN112363875B | 公开（公告）日： | 2023-04-07 |
| 发明（设计）人： | 谭太秋;艾阳阳 | 申请（专利权）人： | 海光信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京市广友专利事务所有限责任公司 11237 | 代理人： | 张仲波 |
| 地址： | 300000 天津市滨海新区天津华苑*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明的实施例公开一种系统缺陷检测方法、设备、电子设备和存储介质，涉及系统验证技术领域，能够提高验证的准确性。所述方法包括：经数据通路发起对测试指令的响应测试，其中测试指令实际的响应与数据通路对测试指令的处理关联；获取测试指令的预期响应结果以及实际的响应测试结果；比较测试指令的预期响应结果以及实际的响应测试结果，得到系统缺陷检测结果。本发明适用于验证系统中缺陷的检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 系统 缺陷 检测 方法 设备 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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