[发明专利]一种SiC MOSFET器件元胞及其制造方法在审
申请号: | 202011138568.1 | 申请日: | 2020-10-22 |
公开(公告)号: | CN112086507A | 公开(公告)日: | 2020-12-15 |
发明(设计)人: | 易波;伍争;魏文静;张千;向勇 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L29/423;H01L29/78;H01L21/336 |
代理公司: | 成都正华专利代理事务所(普通合伙) 51229 | 代理人: | 李蕊 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明公开了一种SiC MOSFET器件元胞及其制造方法,针对槽栅SiC MOSFET槽栅底部的电场屏蔽区接地效果不佳从而限制芯片面积,增大动态损耗以及体二极管导通压降大,反向恢复电荷大的缺点,提出一种直接接地的埋层电场屏蔽区技术方案。该发明更有效地对槽栅氧化层形成电场保护,并且通过集成低漏电的反并联肖特基二极管实现低反向导通压降。 | ||
搜索关键词: | 一种 sic mosfet 器件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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