[发明专利]一种SiC MOSFET器件元胞及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202011138568.1 申请日: 2020-10-22
公开(公告)号: CN112086507A 公开(公告)日: 2020-12-15
发明(设计)人: 易波;伍争;魏文静;张千;向勇 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/423;H01L29/78;H01L21/336
代理公司: 成都正华专利代理事务所(普通合伙) 51229 代理人: 李蕊
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种SiC MOSFET器件元胞及其制造方法,针对槽栅SiC MOSFET槽栅底部的电场屏蔽区接地效果不佳从而限制芯片面积,增大动态损耗以及体二极管导通压降大,反向恢复电荷大的缺点,提出一种直接接地的埋层电场屏蔽区技术方案。该发明更有效地对槽栅氧化层形成电场保护,并且通过集成低漏电的反并联肖特基二极管实现低反向导通压降。
搜索关键词: 一种 sic mosfet 器件 及其 制造 方法
【主权项】:
暂无信息
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