[发明专利]全方位测距装置在审

专利信息
申请号: 202011160952.1 申请日: 2020-10-27
公开(公告)号: CN113030994A 公开(公告)日: 2021-06-25
发明(设计)人: 松浦直也;市川纪元 申请(专利权)人: 日立乐金光科技株式会社
主分类号: G01S17/10 分类号: G01S17/10;G01S17/894;G01S7/4865
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 龙淳
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供覆盖宽广的检测范围并且不需要对多个测距传感器进行彼此的检测区域的调整的全方位测距装置,全方位测距装置(1)将测量与对象物的距离的多个测距传感器(10,20),以在中心轴(Z)的周围彼此靠近地配置成辐射状、且多个测距传感器的检测中心方向从与中心轴正交的面倾斜规定的角度(θ)的方式一体地构成,上述测距传感器使用根据光的飞行时间测量距离的TOF传感器(10),或者使用根据一对摄像机的视差测量距离的立体摄像机(20)。此外,在使用TOF传感器(10)的情况下,也可以将多个发光部(11)在中心轴的周围配置成辐射状,将多个受光部(12)共用并配置在装置的中央部。
搜索关键词: 全方位 测距 装置
【主权项】:
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