[发明专利]一种高精度双测头量块比较仪的装配精度调整方法有效
申请号: | 202011165068.7 | 申请日: | 2020-10-27 |
公开(公告)号: | CN112304267B | 公开(公告)日: | 2022-04-08 |
发明(设计)人: | 刘渤;许文成 | 申请(专利权)人: | 深圳市勤丽华铖科技有限公司 |
主分类号: | G01B21/02 | 分类号: | G01B21/02 |
代理公司: | 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 | 代理人: | 冯建华;刘曰莹 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙华区民*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开一种高精度双测头量块比较仪的装配精度调整方法,包括步骤:a、粗调上、下测头;b、根据标准量块调整两测头,使两测头具有一定的预压量;c、粗调上测头调节组件的微调件,使得上测头与标准量块上表面的垂直度误差小于微调件的最大调整范围;d、调整第一工作台在X和Y轴方向上移动,上测头在X和Y轴方向上行程内的所有示值波动量均小于一定值;e、调整第一工作台在X和Y轴方向上移动,下测头在X和Y轴方向上的行程内的所有示值波动量均小于一定值;f、移除标准量块,调节上、下测头测帽相接触,沿X轴方向对上测头调节组件的微调件调节,沿Y轴方向对下测头调节组件的微调件调节,达到要求后,将二者分别固定于量块比较仪上。 | ||
搜索关键词: | 一种 高精度 双测头 量块 比较仪 装配 精度 调整 方法 | ||
【主权项】:
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