[发明专利]一种测试电路的稳压芯片及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202011176085.0 申请日: 2020-10-29
公开(公告)号: CN112349703B 公开(公告)日: 2023-03-28
发明(设计)人: 段恋 申请(专利权)人: 广州宝创集成电路设计有限公司
主分类号: H01L23/552 分类号: H01L23/552;H01L23/31;H01L21/50;H01L21/56;G01R31/28
代理公司: 佛山市君创知识产权代理事务所(普通合伙) 44675 代理人: 罗伟富
地址: 510700 广东省广州市黄埔区*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种测试电路的稳压芯片,包括衬底,所述衬底的底端连接有外延边,所述外延边的一端均匀嵌入安装有负电极,所述外延边的另一端对应负电极位置处均匀嵌入安装有正电极,所述衬底的外侧连接有抗干扰层,所述抗干扰层的外侧连接有保护层,所述保护层的顶端对称开设有凹槽,所述抗干扰层的内部均匀嵌入安装有抗干扰颗粒,本发明结构科学合理,使用安全方便,通过设置的保护层、抗干扰层和抗干扰颗粒,能够对芯片与外界进行隔离,对芯片进行防护,并可提高芯片的抗电磁干扰能力,通过晶圆表面涂覆两次厚度为0.1mm的光阻薄膜,能够增加光阻薄膜的均匀程度,避免光阻薄膜厚度不均,导致晶圆光刻出现的次品和废品过多。
搜索关键词: 一种 测试 电路 稳压 芯片 及其 制备 方法
【主权项】:
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