[发明专利]基于频率属性预测薄储层厚度的方法及装置在审
| 申请号： | 202011178368.9 | 申请日： | 2020-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN114428322A | 公开（公告）日： | 2022-05-03 |
| 发明（设计）人： | 张明;戴晓峰;徐右平;孙夕平 | 申请（专利权）人： | 中国石油天然气股份有限公司 |
| 主分类号： | G01V1/30 | 分类号： | G01V1/30;G01V1/40 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 薛平;周晓飞 |
| 地址： | 100007 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种基于频率属性预测薄储层厚度的方法及装置，该方法包括：确定目的层的位置、地震波到达目的层顶部的时间，以及地震波到达目的层底部的时间；根据测井资料，确定薄储层厚度变化的正演模型，确定目的层地震波频率随薄储层厚度变化的变化情况；设定时窗，提取目的层频率属性；根据测井资料，确定目的层地层厚度变化的正演模型，确定目的层地震波频率随目的层地层厚度变化的规律；根据三维地震层位解释与测井资料，确定目的层的地层厚度；根据目的层地震波频率随目的层地层厚度变化的规律以及目的层的地层厚度，对目的层频率属性进行校正；根据校正后的目的层频率属性，预测薄储层厚度。本申请可以提高薄储层厚度预测的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 频率 属性 预测 薄储层 厚度 方法 装置 | ||
【主权项】：
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