[发明专利]光学邻近矫正方法及其系统、掩膜版、设备及存储介质在审
申请号: | 202011188200.6 | 申请日: | 2020-10-30 |
公开(公告)号: | CN114442421A | 公开(公告)日: | 2022-05-06 |
发明(设计)人: | 汪涵;杨芸;郑凯;高颖;彭凡珊 | 申请(专利权)人: | 北方集成电路技术创新中心(北京)有限公司 |
主分类号: | G03F1/36 | 分类号: | G03F1/36 |
代理公司: | 上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31327 | 代理人: | 高静 |
地址: | 102600 北京市大兴区*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种光学邻近矫正方法及其系统、掩膜版、设备及存储介质,所述光学邻近矫正方法包括:提供原始图形;获取所述原始图形中的刻蚀窗口;获取所述刻蚀窗口边界内侧的膜层,作为内侧膜层,以及获取所述刻蚀窗口边界外侧的膜层,作为外侧膜层;判断所述内侧膜层的材料和外侧膜层的材料是否相同;当所述内侧膜层的材料和外侧膜层的材料不同时,将所述内侧膜层和外侧膜层的边界标记为待处理边界;沿着垂直于所述待处理边界且由所述内侧膜层指向外侧膜层的方向,对所述待处理边界进行扩展,获得图形。本发明实施例有利于增大光刻和刻蚀工艺的窗口,降低出现栅栏缺陷的几率。 | ||
搜索关键词: | 光学 邻近 矫正 方法 及其 系统 掩膜版 设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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