[发明专利]NOR flash单元制造方法在审

专利信息
申请号: 202011201653.8 申请日: 2020-11-02
公开(公告)号: CN112331658A 公开(公告)日: 2021-02-05
发明(设计)人: 田志;梁启超;邵华;陈昊瑜 申请(专利权)人: 上海华力微电子有限公司
主分类号: H01L27/11521 分类号: H01L27/11521;H01L21/336
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 焦天雷
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种NOR flash单元制造方法,包括:在半导体衬底上形成第二导电类型掺杂阱区和栅;沉积氮化硅在栅两侧形成部分第一氮化硅侧墙,沉积氧化硅在所述部分第一氮化硅侧墙两侧形成第一氧化硅侧墙;第一氧化硅侧墙以及部分第一氮化硅侧墙形貌修整;沉积氮化硅覆盖栅和阱区,沉积氧化硅并进行形貌修整形成完整的第一氮化硅侧墙,并在完整的第一氮化硅侧墙两侧沉积形貌修整形成第二氧化硅侧墙,沉积氮化硅并进行形貌修整形成第二氮化硅侧墙;源漏第一导电类型离子注入和高温热退火;源漏第二导电类型离子注入;去除第二氮化硅侧墙,形成第一难熔硅化物掩蔽层;源漏第二导电类型高温热退火,形成第二难熔硅化物掩蔽层;接触孔刻蚀阻挡层形成。
搜索关键词: nor flash 单元 制造 方法
【主权项】:
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