[发明专利]一种集成电路自动控制测试方法在审

专利信息
申请号: 202011206894.1 申请日: 2020-11-03
公开(公告)号: CN112379244A 公开(公告)日: 2021-02-19
发明(设计)人: 王华;刘远华;季海英;凌俭波;叶建明;崔孝叶 申请(专利权)人: 上海华岭集成电路技术股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 上海海贝律师事务所 31301 代理人: 宋振宇
地址: 201203 上海市浦东新区中国(*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种集成电路自动控制测试方法,为一种机械结构和算法的结合,首先需要对handler内部进行结构的改造,增加失效复测区(E)和一移动机械臂(F),将需要复测的BIN放置由原来位置移动到失效复测区域,在完成第一次测试后,将失效复测区域的芯片通过机械臂又放置在待测区域,从而实现自动复测的目的,减少人工重新放置和测试机停机的时间。
搜索关键词: 一种 集成电路 自动控制 测试 方法
【主权项】:
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