[发明专利]芯片钝化层的制备方法、芯片钝化层及芯片有效
申请号: | 202011226912.2 | 申请日: | 2020-11-05 |
公开(公告)号: | CN112458427B | 公开(公告)日: | 2023-05-30 |
发明(设计)人: | 丁凯文;冷群文;邹泉波;赵海轮;安琪;周汪洋;周良 | 申请(专利权)人: | 歌尔微电子股份有限公司 |
主分类号: | C23C16/04 | 分类号: | C23C16/04;C23C16/24;C23C16/34;C23C16/40;C23C16/50;C23C16/56;H01L21/02 |
代理公司: | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人: | 梁馨怡 |
地址: | 266100 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明公开了一种芯片钝化层的制备方法、芯片钝化层及芯片,在硬掩模衬底沉积氮化硅或氧化硅,获得第一结构;在所述第一结构的表面生长非晶硅,获得第二结构;在所述第二结构的上表面进行氧化硅沉积,获得第三结构;对所述第三结构中的氧化硅层进行图形化,获得第四结构;对所述第四结构进行硅蚀刻,获得第五结构;释放所述第五结构中的氮化硅和/或氧化硅,获得芯片钝化层。由此通过沉积、生长、再沉积、图形化、蚀刻、释放操作,获得了工艺集成度高,且具有良好可靠性和兼容性高芯片钝化层。 | ||
搜索关键词: | 芯片 钝化 制备 方法 | ||
【主权项】:
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的