[发明专利]物体表面平整度的检测方法、装置、电子装置和存储介质有效
| 申请号： | 202011246673.7 | 申请日： | 2020-11-10 |
| 公开（公告）号： | CN112414326B | 公开（公告）日： | 2022-05-20 |
| 发明（设计）人： | 周云柯;刘羽;周璐 | 申请（专利权）人： | 浙江华睿科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/30 | 分类号： | G01B11/30 |
| 代理公司： | 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 | 代理人： | 贺才杰 |
| 地址： | 310051 浙江省杭*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种物体表面平整度的检测方法、装置、电子装置和存储介质，其中，该物体表面平整度的检测方法包括：获取待测物体所在场景的三维点云，并提取三维点云中的待测物点云，根据待测物点云获取待测物体的待测面的深度图，根据深度图，计算深度图中每个点的点云信息、深度图中每个点的临近点高度以及深度图的外接图形，根据深度图、每个点的点云信息、每个点的临近点高度以及外接图形，计算待测面的图形特征值以及均匀度，根据图形特征值和均匀度，获取待测面的平整度。通过本申请，解决了相关技术中通过实际空间与像素的映射关系对物体进行测量，通用性较低的问题，提高了物体表面平整度检测的场景适用性。 | ||
| 搜索关键词： | 物体 表面 平整 检测 方法 装置 电子 存储 介质 | ||
【主权项】：
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