[发明专利]一种基于面积比的剔除细小残留物的胶粘薄膜褶皱缺陷检测方法在审
| 申请号： | 202011256012.2 | 申请日： | 2020-11-11 |
| 公开（公告）号： | CN112651923A | 公开（公告）日： | 2021-04-13 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 北京平恒智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/13;G06T7/136;G06T7/187;G06T7/194;G06T7/62 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区经*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及缺陷检测技术领域，尤其涉及一种基于面积比的剔除细小残留物的胶粘薄膜褶皱缺陷检测方法。胶粘薄膜类产品一般具有很强的反光特性，所以使用同轴光作为褶皱缺陷检测的光源，降低反光性，突出褶皱缺陷。经过不同颜色光源的测试，红色同轴光效果最佳。本发明采用红色同轴光拍摄胶粘薄膜图片，该胶粘薄膜表面存在干扰褶皱缺陷检测的细白塑料毛，细白塑料毛是模切机未切干净所致，属物料残留。细小白色物料残留不属于缺陷，但自适应阈值分割方法也会将其提取出来。由于细小白色残留物料亮色部分面积超过了其所在的连通域面积的90%，所以本发明提出了一种基于面积比的剔除细小残留物的胶粘薄膜褶皱缺陷检测方法，剔除细小白色残留物料所在的连通域，只保留褶皱所在的连通域。避免了细小白色残留物料的干扰，精准检测胶粘薄膜褶皱。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 面积 剔除 细小 残留物 胶粘 薄膜 褶皱 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
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