[发明专利]无接触光学测试接口在审
| 申请号： | 202011265229.X | 申请日： | 2020-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN114488412A | 公开（公告）日： | 2022-05-13 |
| 发明（设计）人： | P·施奈德;张晓东;冷宗圣;J·布拉瑟 | 申请（专利权）人： | 康普技术有限责任公司 |
| 主分类号： | G02B6/38 | 分类号： | G02B6/38 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 於菪珉 |
| 地址： | 美国北卡*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种无接触光学测试接口。测试设备的连接接口包括光学测试套管，该光学测试套管被构造成产生在测试路径(例如，光学光纤或光学波导)与由要测试的光学连接器的标准套管连接接口端接的光纤之间的有意的气隙。一些类型的测试套管具有带有非标准角度的端面，其干涉与标准套管连接接口的接触匹配。其他类型的测试套管具有带有一个或多个突起的端面，其干涉与标准套管连接接口的接触匹配。 | ||
| 搜索关键词： | 接触 光学 测试 接口 | ||
【主权项】：
暂无信息
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