[发明专利]一种集成电路量产测试异常故障监控系统在审
| 申请号： | 202011274547.2 | 申请日： | 2020-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN112652086A | 公开（公告）日： | 2021-04-13 |
| 发明（设计）人： | 李全任;佟金祥 | 申请（专利权）人： | 南京宏泰半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G07C3/00 | 分类号： | G07C3/00;G07C3/12;G07C3/14;G08B21/18 |
| 代理公司： | 南京北辰联和知识产权代理有限公司 32350 | 代理人： | 王真 |
| 地址： | 210000 江苏省南京市浦口区*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种集成电路量产测试异常故障监控系统，涉及半导体测试应用技术领域；本发明包含的功能为多种报警类型设定、测试项目显示设定、ATE测试数据存储、实时数据监控控制、多种报警形式设定、测试ATE与测试终端通讯；本发明为在线数据监控工具，可根据测试程序选择监控测试项目、设定测试项目监控项参数，完成对ATE测试项目数据结果的实时监控，在触发报警监控条件后及时通知ATE停止测试并弹窗提示；同时保存ATE反馈的测试数据生成文件；本发明相较于传统测试监控系统发现异常数据时间需要1天以上，优化为了现在可以实时报警，并对异常项目图形化显示，减少了工程师分析数据的时间，本发明对工厂的质量管理、效率提升带来了很大的帮助。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 量产 测试 异常 故障 监控 系统 | ||
【主权项】：
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