[发明专利]一种性能测试方法、装置及存储介质在审
| 申请号： | 202011275903.2 | 申请日： | 2020-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN112486805A | 公开（公告）日： | 2021-03-12 |
| 发明（设计）人： | 张小云;孙炎森;徐晓剑;刘磊;马融;李春兰;刘伟 | 申请（专利权）人： | 中信银行股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京市兰台律师事务所 11354 | 代理人： | 张峰 |
| 地址： | 100020 北京市朝*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种性能测试方法，该方法包括：根据待测技术组件的情况以及预先获取的JVM隐式优化陷阱，生成JMH基准测试代码；根据该JMH基准测试代码对该待测技术组件进行性能测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 性能 测试 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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