[发明专利]掩膜板以及三维存储器的制作方法在审
申请号: | 202011282268.0 | 申请日: | 2020-11-16 |
公开(公告)号: | CN112394611A | 公开(公告)日: | 2021-02-23 |
发明(设计)人: | 郭龙霞;黎剑锋;张鹏真 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | G03F1/42 | 分类号: | G03F1/42;H01L27/11524;H01L27/11551;H01L27/1157;H01L27/11578 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 王晓玲 |
地址: | 430074 湖北省武*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: |
本发明提供了一种掩膜板以及三维存储器的制作方法。该掩膜板中的对准图形包括多个对准单元,对准单元沿第一方向间隔设置,相邻对准单元之间的最小间距为H |
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搜索关键词: | 掩膜板 以及 三维 存储器 制作方法 | ||
【主权项】:
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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