[发明专利]片上时钟控制装置、芯片、芯片测试系统和测试方法在审
| 申请号： | 202011284274.X | 申请日： | 2020-11-17 |
| 公开（公告）号： | CN112557887A | 公开（公告）日： | 2021-03-26 |
| 发明（设计）人： | 刘君 | 申请（专利权）人： | OPPO广东移动通信有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 邵泳城 |
| 地址： | 523860 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开一种片上时钟控制装置、芯片、芯片测试系统和测试方法。片上时钟控制装置包括信号输出模块，包括输入扫描寄存器和输出扫描寄存器，所述输入扫描寄存器用于从所述芯片接收输入信号，所述输入信号包括转换时钟信号和功能时钟信号，所述输出扫描寄存器用于根据所述转换时钟信号和所述功能时钟信号，分别输出第一测试信号和第二测试信号到频率相同的一个或多个所述时域电路中的待测试扫描寄存器，所述第一测试信号和所述第二测试信号依次对所述待测试扫描寄存器进行复位，以使得所述待测试扫描寄存器生成表征故障情况的测试结果信号。片上时钟控制装置只只需与一个或多个频率相同的时域电路连接以进行测试，无需与其他频率不同的时域电路连接，走线长度较短，布局简单，克服了时序难以收敛的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 时钟 控制 装置 芯片 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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