[发明专利]一种质谱数据峰位置对齐方法及装置

摘要

本发明公开一种质谱数据峰位置对齐方法，包括以下步骤：获取原始谱图；采用findpeaks函数对S(x)进行谱峰识别，并对谱峰位置进行标记；采用smoothdata函数对S(x)的谱图进行平滑处理，将平滑处理后的谱图记为T(x)；对T(x)的谱峰进行再次识别，将每个谱峰当做一个分段；采用FFT函数方法计算各分段Si(x)相对于参考谱R(x)对应分段的漂移量ΔPi；按漂移量ΔPi移动Si(x)，若与相邻分段Si‑1(x)或Si+1(x)发生谱峰重叠，则让ΔPi＝ΔPi‑1(ΔPi≥0)，直到不发生重叠为止，记录不重叠时的漂移量ΔPi；用各分段不重叠时的漂移量ΔPi校正相应的分段Si(x)的谱峰，得到目标尺度下的对齐谱S(x)。本发明具有操作简单明了、分析效率高、对齐准确等显著优势，有效改善了谱图数据处理的准确性与可靠性。