[发明专利]III族氮化物层叠基板和半导体元件在审
申请号: | 202011302621.7 | 申请日: | 2020-11-19 |
公开(公告)号: | CN112838148A | 公开(公告)日: | 2021-05-25 |
发明(设计)人: | 藤仓序章;今野泰一郎;木村健司 | 申请(专利权)人: | 赛奥科思有限公司;住友化学株式会社 |
主分类号: | H01L33/06 | 分类号: | H01L33/06;H01L33/00;H01L33/14;H01L33/32 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;李茂家 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及III族氮化物层叠基板和半导体元件。提供能够提高形成在基底基板上的GaN层的品质的技术。一种III族氮化物层叠基板,其具有:基底基板;第一层,其形成在基底基板上且由氮化铝构成;以及第二层,其形成在第一层上且由氮化镓构成,第二层的厚度为10μm以下,基于X射线摇摆曲线测定的(0002)衍射的半值宽度为100秒以下,基于X射线摇摆曲线测定的(10‑12)衍射的半值宽度为200秒以下。 | ||
搜索关键词: | iii 氮化物 层叠 半导体 元件 | ||
【主权项】:
暂无信息
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