[发明专利]一种集成电路测试中site的管控方法及系统

摘要

本发明公开了一种集成电路测试中site的管控方法及系统，涉及集成电路领域。该方法包括：步骤1，获取bin值排序文件；步骤2，统计集成电路并行测试中每个bin值在不同site下出现的个数，生成统计表；步骤3，根据所述bin值排序文件，对统计表中不符合要求的数据进行剔除，生成优化后的统计表；步骤4，根据优化后的统计表计算bin值百分比；步骤5，根据所述bin值百分比判断site是否可控。本发明能够解决统计百分比时仍然以site总Die数或晶圆总Die数作为基数计算某个bin的百分比，则会导致统计数据失真的问题，达到减少site间差误判漏判问题，提高了生产管控能力，及时发现测试过程趋势性问题，避免了客户损失的效果。