[发明专利]四极杆质量分析装置及方法以及程序记录介质在审
申请号: | 202011344731.X | 申请日: | 2020-11-26 |
公开(公告)号: | CN112992648A | 公开(公告)日: | 2021-06-18 |
发明(设计)人: | 笹井浩平;笹仓一志;池山俊広;井上贵仁;内原博 | 申请(专利权)人: | 株式会社堀场STEC;株式会社堀场制作所 |
主分类号: | H01J49/42 | 分类号: | H01J49/42;H01J49/00 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 包跃华;金玉兰 |
地址: | 日本京都*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供四极杆质量分析装置及方法以及程序记录介质。四极杆质量分析装置具备:离子源(1),使样品离子化;过滤部(3),具备四极杆(31)并使在离子源(1)产生的离子质量分离;检测器(5),检测通过了过滤部(3)的离子;过滤电压控制器(62),控制施加于四极杆(31)的由高频电压和直流电压构成的过滤电压,在阻断模式与入射模式之间进行切换,阻断模式使入射到过滤部(3)的离子不入射到检测器,入射模式使入射到过滤部(3)的离子入射到检测器;基线计算部(63),基于阻断模式中的检测器的输出来计算基线;以及分析部(65),基于入射模式中的检测器的输出和基线计算部(63)计算出的基线来输出样品的分析结果。 | ||
搜索关键词: | 四极杆 质量 分析 装置 方法 以及 程序 记录 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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