[发明专利]真空机械手在审
申请号: | 202011350869.0 | 申请日: | 2020-11-26 |
公开(公告)号: | CN112490164A | 公开(公告)日: | 2021-03-12 |
发明(设计)人: | 赵海洋;尹子剑 | 申请(专利权)人: | 北京北方华创微电子装备有限公司 |
主分类号: | H01L21/677 | 分类号: | H01L21/677;H01L21/683;H01L21/67;B25J11/00;B25J19/02;C23C16/458 |
代理公司: | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人: | 施敬勃 |
地址: | 100176 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本申请实施例公开了一种真空机械手,涉及半导体工艺设备领域。该真空机械手用于半导体工艺设备转运待加工工件使用,包括吸附构件和第一检测构件,所述吸附构件为透明材质;所述吸附构件的一侧为用于承载所述待加工工件的承载面,所述承载面上具有基准区域,所述基准区域为符合所述待加工工件定位位置要求的区域;所述第一检测构件设置于所述吸附构件背离所述承载面的一侧,且所述第一检测构件在所述承载面上的投影位于所述基准区域内;所述第一检测构件用于对所述基准区域上是否具有所述待加工工件进行检测。本申请至少用以解决常规真空手指无法准确地判断是否吸到晶圆的技术问题。 | ||
搜索关键词: | 真空 机械手 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京北方华创微电子装备有限公司,未经北京北方华创微电子装备有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202011350869.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种复合型无纺布材料
- 下一篇:一种用户行为序列异常检测方法、终端及存储介质
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造