[发明专利]一种支持多个PCIE卡的同时测试方法和系统有效
| 申请号： | 202011362783.X | 申请日： | 2020-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN112416682B | 公开（公告）日： | 2022-02-25 |
| 发明（设计）人： | 王斌;王中原;吴世勇;李银龙;冯驰;王凯霖 | 申请（专利权）人： | 郑州信大捷安信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 郑州大通专利商标代理有限公司 41111 | 代理人： | 张立强 |
| 地址： | 450000 河南省*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本发明提供一种支持多个PCIE卡的同时测试方法和系统。该方法包括：将多个PCIE卡分别通过物理接口插接于测试主机上；测试主机的操作系统监控到有多个PCIE卡接入，则分别启动多个测试进程；在每个测试进程下，启动PCIE卡配置空间监控线程；每个测试进程分别基于DMA高速通道的数量启动多个DMA测试线程组，并基于BAR低速通道的数量启动多个BAR测试线程组；在每个测试进程下，分别通过多个DMA测试线程组和BAR测试线程组异步测试各个DMA高速通道和BAR低速通道处理数据的准确性；针对每个PCIE卡，如果有超过预设阈值的测试线程组反馈DMA高速通道或BAR低速通道处理数据出错时，则判定所述PCIE卡的数据处理性能不合格，反之，性能合格。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 支持 pcie 同时 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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