[发明专利]对用于IR光谱分析的光学表面的损伤的确定在审
| 申请号： | 202011363067.3 | 申请日： | 2020-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN112858210A | 公开（公告）日： | 2021-05-28 |
| 发明（设计）人： | 奥托·谢贝尔霍夫;罗曼·贝内斯 | 申请（专利权）人： | 安东帕有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N21/3563 | 分类号： | G01N21/3563 |
| 代理公司： | 成都超凡明远知识产权代理有限公司 51258 | 代理人： | 王晖;曹桓 |
| 地址： | 奥地利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： |
提供了一种用于IR光谱分析并且用于对在IR光谱分析期间暴露于测量辐射(9)的表面(13、15)的损伤进行确定的装置(1)，其中该装置包括：用于产生测量辐射(9)的辐射源(7)；用于接纳样品(16)的样品容器(21)，其中该样品容器至少部分地由表面(13、15)限界；用于检测与所述样品(16)相互作用后的测量辐射(17)的检测器(19)，其中该装置被配置成：对接纳在所述样品容器中的参考样品的IR参考光谱(29、31、I |
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| 搜索关键词： | 用于 ir 光谱分析 光学 表面 损伤 确定 | ||
【主权项】：
暂无信息
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