[发明专利]一种低熔点、易挥发含能材料的动态测压热分析方法在审

专利信息
申请号: 202011377231.6 申请日: 2020-11-30
公开(公告)号: CN112611782A 公开(公告)日: 2021-04-06
发明(设计)人: 李志敏;张同来;杨利;黄可奇;王彦娜;夏良洪;张纬经 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01N25/48 分类号: G01N25/48
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 张洁;周蜜
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种低熔点、易挥发含能材料的动态测压热分析方法,属于含能材料技术领域。为了满足对低熔点、易挥发性含能材料进行热分析的实际需求,本发明所述方法首先对含能材料进行冷冻后再加热,并通过压力传感器和温度传感器得到含能材料分解过程中的实时表观压力和温度值,然后通过TGA法得到材料在不同温度下的蒸气压,将表观压力进行标准化和归一化处理、再减去相应测试温度条件下材料的蒸气压,得到由于分解而导致的压力增加数据,以此数据进行动学和热力处理,得到用于判定该物质热安定性和反应性的基础数据。有效解决了低熔点、易挥发性含能材料分解压力难以测试的问题,实验过程精确、安全、可控、实时在线。
搜索关键词: 一种 熔点 挥发 材料 动态 测压热 分析 方法
【主权项】:
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