[发明专利]IC芯片检测装置有效
| 申请号： | 202011378793.2 | 申请日： | 2020-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN112604983B | 公开（公告）日： | 2022-06-14 |
| 发明（设计）人： | 刘世洪 | 申请（专利权）人： | 深圳市华力宇电子科技有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/02 | 分类号： | B07C5/02;B07C5/36;B07C5/38;B07C5/34 |
| 代理公司： | 深圳市宏德雨知识产权代理事务所(普通合伙) 44526 | 代理人： | 李捷 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区航城街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种IC芯片检测装置，其包括机台、上料机构、检测机构和收料机构，机台包括顶部的顶板和侧面的斜板，上料机构设置在机台上，用于运输IC芯片，检测机构设置在斜板上，且位于上料机构下方，用于对上料机构运输过来的IC芯片进行检测，收料机构设置在斜板上，且位于检测机构下方，用于接收检测机构检测后的IC芯片并分类收纳，本发明的IC芯片检测装置，可以同时对两条轨道的芯片进行检测，检测字符时特制光源上的字符光源单独使用，检测引脚时背光源和特制光源上的引脚光源一起使用，倾斜的运料轨道，利用IC芯片自身的重量滑落到检测位置，节省运输成本，检测效率高，检测效果好，整体结构稳定耐用。 | ||
| 搜索关键词： | ic 芯片 检测 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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