[发明专利]一种卫星综合电子机内测试设计方法在审

专利信息
申请号: 202011382151.X 申请日: 2020-12-01
公开(公告)号: CN112526269A 公开(公告)日: 2021-03-19
发明(设计)人: 许大伟;雍国富;牛磊;杨江利;李伟强;杨将;许良;于俊杰;孙航;田菁晖 申请(专利权)人: 山东航天电子技术研究所
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G06F30/30
代理公司: 北京金硕果知识产权代理事务所(普通合伙) 11259 代理人: 郝晓霞
地址: 264003 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开一种卫星综合电子机内测试设计方法,首先根据综合电子单机物理功能划分和测试性要求,设计分层的BIT架构;然后对产品进行扩展FMEA分析,确定产品的故障模式以及选用测试点和测试点设计电路;筛选出对任务功能有显著影响的故障模式及其测试点;最后根据测试点特性,结合工程实践经验设计测试电路完成BIT设计。本方案通过对产品进行扩展FMEA分析,优选出反映产品关键功能和故障判断的测试点;并针对测试点特性设计专门测试电路,利用单机内部软硬件资源对测试点采集或测试,能够在不打开设备结构的情况下,缩小故障范围,便于故障时定位和判断,在不额外增加卫星软件和硬件资源基础上,有效提高单机的测试性水平,提高故障检测效率。
搜索关键词: 一种 卫星 综合 电子 测试 设计 方法
【主权项】:
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