[发明专利]一种生产NLDMOS器件的方法及NLDMOS器件在审

专利信息
申请号: 202011384122.7 申请日: 2020-12-01
公开(公告)号: CN112510094A 公开(公告)日: 2021-03-16
发明(设计)人: 宋利军;张子敏 申请(专利权)人: 无锡先瞳半导体科技有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L21/336
代理公司: 广东君龙律师事务所 44470 代理人: 朱鹏
地址: 214000 江苏省无锡市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明实施例提供一种生产NLDMOS器件的方法,还提供了通过该方法得到的NLDMOS器件。该方法包括首先在一提供一低阻P+型衬底,然后在所述低阻P+型衬底形成BN区域、两个STI区域及Nwell层,再在所述STI区域内侧分别刻蚀出PB区域,然后所述低阻P+型衬底上方生长栅氧并形成栅极,在所述PB区域生成源极区域,最后在所述PB区域之间刻蚀深孔区域,并将所述深孔区域进行填充后,金属淀积刻蚀形成漏极区域。本发明提供的方法生产得到的NLDMOS器件面积大大减小,使电流检测功能的器件可集成。
搜索关键词: 一种 生产 nldmos 器件 方法
【主权项】:
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