[发明专利]二阶欠阻尼系统的串联校正方法在审

专利信息
申请号: 202011397821.5 申请日: 2020-12-03
公开(公告)号: CN112558463A 公开(公告)日: 2021-03-26
发明(设计)人: 唐静 申请(专利权)人: 重庆交通大学
主分类号: G05B11/01 分类号: G05B11/01
代理公司: 重庆上义众和专利代理事务所(普通合伙) 50225 代理人: 谭勇
地址: 400074 *** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 一种二阶欠阻尼系统串联校正方法,具体步骤:一:测试系统阶跃响应,得超调量δ3%,调节时间ts3;二:根据步骤一得超调量δ3%和调节时间ts3,建立实际开环传递函数;三:根据步骤一得超调量δ3%和调节时间ts3与步骤二推算的kv,判断实际连续二阶欠阻尼系统静态速度误差、超调量和调节时间是否满足性能要求;如满足要求则被控对象不需要校正;如不满足要求则需要校正,进入步骤四;四:连续欠阻尼二阶系统输出波形任一性能不满足要求,则校正,在步骤四中讲述具体校正方法;五:校正后模型性能指标验算;六:实物搭建校正环节,按步骤一和步骤二测得静态速度误差、超调量和调节时间,与提出指标比较,看是否校正成功,如不成功,进一步调节参数。
搜索关键词: 二阶欠 阻尼 系统 串联 校正 方法
【主权项】:
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