[发明专利]一种面向故障分类的存储器测试系统及方法有效
| 申请号： | 202011417493.0 | 申请日： | 2020-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN112466386B | 公开（公告）日： | 2022-06-21 |
| 发明（设计）人： | 黄乐天;王梓任;赵天津;谢暄 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G06K9/62 |
| 代理公司： | 北京正华智诚专利代理事务所(普通合伙) 11870 | 代理人： | 刘方正 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种面向故障分类的存储器测试系统及方法。系统包括存储器端口选择器，存储器端口选择器分别与存储器和存储器测试控制器相连；存储器测试控制器分别连接小周期故障记录内容可寻址存储器、大周期故障记录内容可寻址存储器和大周期故障次数记录单元。本发明采用大小周期结合的测试方法解决了现有技术中存储器测试电路实现故障分类的方法过于繁琐、面积开销较大，没有考虑间歇性故障的发生需要一定时间的问题。本发明可以以高效、准确、低开销的方式实现对存储器单元故障类型的分类，便于后续修复工作的开展。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 面向 故障 分类 存储器 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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