[发明专利]一种肖特基芯片IV不良曲线的测试筛选方法有效

专利信息
申请号: 202011420743.6 申请日: 2020-12-08
公开(公告)号: CN112698174B 公开(公告)日: 2022-05-27
发明(设计)人: 郑晓波;赵晓非;王毅 申请(专利权)人: 扬州扬杰电子科技股份有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 扬州市苏为知识产权代理事务所(普通合伙) 32283 代理人: 郭翔
地址: 225008 江苏省扬*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种肖特基芯片IV不良曲线的测试筛选方法,涉及一种芯片测试工艺。测试盒给出50uA、100uA和500uA的反向电流,测试反向电压,并分别记录其反向电压数值为C、A和B;然后测试盒给出1mA的反向电流、10mA的正向电流、100mA的正向电流、1A的正向电流、3A的正向电流、5A的正向电流;计算|A‑B|的绝对值,设其绝对值为D;当数值D大于1时,IV曲线不良当数值D小于1时,IV曲线不存在异常;本发明步骤可快速、自动的对SBD芯片进行全检,降低了在客户端使用时产生曲线异常的概率。
搜索关键词: 一种 肖特基 芯片 iv 不良 曲线 测试 筛选 方法
【主权项】:
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