[发明专利]芯片托盘堆叠检测装置的成像系统和芯片托盘堆叠检测装置有效
| 申请号： | 202011428712.5 | 申请日： | 2020-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN112693904B | 公开（公告）日： | 2022-11-08 |
| 发明（设计）人： | 储飞;宋存霄 | 申请（专利权）人： | 英特尔产品（成都）有限公司;英特尔公司 |
| 主分类号： | B65G57/03 | 分类号： | B65G57/03;B65G43/08;B65G15/30;B65G15/22;B65G21/20;G01B11/00 |
| 代理公司： | 北京永新同创知识产权代理有限公司 11376 | 代理人： | 刘兴鹏 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供芯片托盘堆叠检测装置的成像系统和芯片托盘堆叠检测装置。芯片托盘堆叠包括多个叠置在一起的芯片托盘，每个芯片托盘容纳有多个位于相应托盘凹坑中的芯片。所述成像系统包括：至少一个输送机构，所述输送机构包括两条平行设置的环形传送带，所述芯片托盘堆叠在所述环形传送带上被输送；至少一个旋转机构；以及至少一个，所述成像器件用于对所述芯片托盘堆叠的四个侧面进行成像；其中，通过至少一个旋转机构的旋转能够改变所述芯片托盘堆叠的四个侧面的方位，以便所述四个侧面中的每个侧面被所述成像器件成像。根据本发明能够对芯片托盘堆叠快速、高效、精准、可靠地成像。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 托盘 堆叠 检测 装置 成像 系统 | ||
【主权项】：
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