[发明专利]一种CT探测器核心部件的高加速寿命试验方法有效
| 申请号： | 202011431285.6 | 申请日： | 2020-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN112461473B | 公开（公告）日： | 2023-08-01 |
| 发明（设计）人： | 邵建文;张昕;王凯;程中州;赵存彬 | 申请（专利权）人： | 浙江省计量科学研究院 |
| 主分类号： | G01M7/02 | 分类号： | G01M7/02;G01M99/00 |
| 代理公司： | 杭州奥创知识产权代理有限公司 33272 | 代理人： | 王佳健 |
| 地址： | 310018 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种CT探测器核心部件的高加速寿命试验方法。本发明将CT探测器核心部件放入高加速寿命试验箱中，控制高加速寿命试验箱同时进行温度、振动循环周期性试验。并通过高低温循环变化，逐步增加温度应力系数。在每个高温点向低温点变化的同时，振动应力步进增加。在各相应时间点进行失效判断和失效统计，直到试验样品全部失效为止，最后进行失效分析，鉴定探测器核心部件的平均无故障工作时间。本发明避免了正常寿命试验方法样机数大、耗时久的缺点，相比普通的高低温循环试验、振动步进试验大大缩短了试验时间。在短期内快速激发核心部件的潜在故障，为产品的整体设计提供全过程技术支持，有效提高产品的可靠性水平。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ct 探测器 核心 部件 加速 寿命 试验 方法 | ||
【主权项】：
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