[发明专利]一种飞秒激光直写LFPG结合光纤MZI结构的双参数测试方法在审
| 申请号： | 202011431471.X | 申请日： | 2020-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN112762983A | 公开（公告）日： | 2021-05-07 |
| 发明（设计）人： | 张雯;祝连庆;何巍;董明利;李红;庄炜;何彦霖 | 申请（专利权）人： | 北京信息科技大学 |
| 主分类号： | G01D21/02 | 分类号： | G01D21/02;G01K11/32;G01N21/45;G02B6/02;G02B6/255 |
| 代理公司： | 北京律恒立业知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11416 | 代理人： | 王琦;庞立岩 |
| 地址： | 100085 北京市海淀区清*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明本发明涉及飞秒激光直写长周期光纤光栅(Long Period Fiber Grating,LPFG)结合光纤马赫曾德干涉仪(Mach‑Zehnder Interferometer,MZI)结构的双参数测试方法。该传感器主要由电弧放电制备的纤芯失配型光纤MZI结构和飞秒激光直写制备的LPFG组成，可实现温度和折射率的同时测量。采用本发明提供的技术方案制作的飞秒激光直写LPFG结合光纤MZI为全光纤结构，可避免电磁干扰，耐高温，可实现温度和折射率的同时测量。同时，其结构及制作工艺简单，可靠性好、灵敏度高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 激光 lfpg 结合 光纤 mzi 结构 参数 测试 方法 | ||
【主权项】：
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