[发明专利]集成式组合件以及形成集成式组合件的方法在审

专利信息
申请号: 202011447420.6 申请日: 2020-12-09
公开(公告)号: CN112951837A 公开(公告)日: 2021-06-11
发明(设计)人: J·D·霍普金斯;P·纳拉亚南;J·D·格林利 申请(专利权)人: 美光科技公司
主分类号: H01L27/11551 分类号: H01L27/11551;H01L27/11524;H01L27/11578;H01L27/1157
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 王龙
地址: 美国爱*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本申请案涉及集成式组合件以及形成集成式组合件的方法。一些实施例包含一种形成集成式组合件的方法。交替的第一和第二材料的堆叠形成于导电结构之上。所述导电结构包含含金属材料之上的含半导体材料。开口形成为延伸穿过所述堆叠且穿过所述含半导体材料,以使所述含金属材料暴露。所述含半导体材料掺杂有碳和/或掺杂有一或多种金属。在所述含半导体材料的所述掺杂之后,移除所述堆叠的所述第二材料以形成空隙。导电材料形成于所述空隙内。绝缘材料形成于所述开口内。一些实施例包含具有分布在半导体材料的至少一部分内的碳的集成式组合件。
搜索关键词: 集成 组合 以及 形成 方法
【主权项】:
暂无信息
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