[发明专利]深反射地震剖面随机介质参数确定方法、装置和电子设备在审
| 申请号： | 202011451064.5 | 申请日： | 2020-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN112578449A | 公开（公告）日： | 2021-03-30 |
| 发明（设计）人： | 雍凡;刘子龙;蒋正中;刘建生;罗水余 | 申请（专利权）人： | 中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所 |
| 主分类号： | G01V1/30 | 分类号： | G01V1/30;G01V1/36;G06F30/20;G06F17/15;G06F17/14;G06F17/18 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 安卫静 |
| 地址： | 065000*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种深反射地震剖面随机介质参数确定方法、装置和电子设备，涉及地质勘探的技术领域，在获取到深反射地震剖面数据之后，首先将其拆分成多个子地震剖面数据，然后基于现代谱分析方法确定目标子地震剖面数据的自相关函数，进而求解目标子地震剖面数据的随机介质参数，最后根据所有子地震剖面数据的随机介质参数确定深反射地震剖面数据的随机介质参数。本发明先将深反射地震剖面数据拆分成相对较短的数据，然后采用现代谱分析方法求解短数据的自相关函数，其计算误差远小于直接进行自相关函数计算的方法，进而使得求解得到的随机介质参数更精确，有效的缓解了现有技术中的深反射地震剖面随机介质参数确定方法存在的准确性差的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 反射 地震 剖面 随机 介质 参数 确定 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
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