[发明专利]雷达参数综合测量系统及测量方法在审

专利信息
申请号: 202011451108.4 申请日: 2020-12-10
公开(公告)号: CN112698318A 公开(公告)日: 2021-04-23
发明(设计)人: 颜卫忠;陈栋志;孔凡伟;钱婧怡;白旭东 申请(专利权)人: 上海航天电子有限公司;上海科学仪器厂有限公司
主分类号: G01S13/42 分类号: G01S13/42;G01S7/02;G01S7/40
代理公司: 上海航天局专利中心 31107 代理人: 孙瑜
地址: 201821 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明实施例提供了一种雷达参数综合测量系统的测量方法,其特征在于,包括步骤:步骤1:搭建雷达参数综合测量系统;步骤2:雷达天线指向校准;步骤3:根据不同参数测量需求驱动滑台使滑台支架(2)运动,并记录滑台支架(2)运动速度、运动时间、相对滑台(3)起点的位置等信息,同时记录雷达测量目标参数的结果;步骤4:比较步骤3中的滑台支架(2)信息以及雷达测量结果,即可计算目标参数测量精度。本发明提出的雷达参数综合测量系统能够提高雷达参数测量的准确性和便利性,减小雷达参数测量的误差。
搜索关键词: 雷达 参数 综合 测量 系统 测量方法
【主权项】:
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